1．产品介绍
SRAM器件辐射效应测试套件包含可定制的夹具板、驱动与测试向量、可配置的软件插件，基于QDRP平台实现对通用异步SRAM器件的功能验证、性能测试、单粒子翻转测试、单粒子闩锁测试等，支持自动重写和自定义忽略地址功能，能够快速定制各种封装的夹具板以满足辐射效应测试的要求。
2．主要功能
★ 手动数据写
★ 手动数据读
★ 手动数据对比
★ 自动测试，支持多片轮询
★ 自动重写
★ 忽略地址列表
★ 单粒子闩锁检测
★ 单粒子翻转检测
★ 独立电源控制
★ 独立电平/脉冲输出功能
型号 | QKSRAM01 | QKSRAM06 |
供电电源 | 4路0.9V～5.5V/4A、2路1V～12V/2A | |
接口电平 | 1.2V～3.4V | |
数据接口类型 | LVCMOS | |
数据位宽 | 8/16/32 | |
地址接口类型 | LVCMOS | |
地址位宽 | 1～32 | |
数据方向切换 | 支持 | |
片选数量 | 1 | 6 |
通用IO | 8 | |
脉冲宽度 | 200ns～100ms | |
访问时间 | 20ns～100ms | |
写周期 | 20ns～100ms | |
忽略地址列表 | 8组×8 | |
陕西夸克自控科技有限公司成立于2007年7月，是一家半导体可靠性测试解决方案提供商，公司依靠丰富的测试系统工程经验、半导体测试技术、高压及微弱信号检测技术、真空及辐射效应测试技术、高... 您有什么问题或要求吗？
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