产品介绍
FPGA器件辐射效应测试系统能够适应不同的类型的FPGA器件的辐射效应试验，通过在线测试向量切换能力，动态适配各种场景下FPGA器件的单粒子翻转效应、单粒子闩锁效应、单粒子功能中断效应等测试和评估，能够通过总线速率适配调节满足高速、长线、真空等各种恶劣条件下的测试应用。
2. 主要功能
l SRAM型/FLASH型 FPGA器件辐射效应测试
l 在线测试向量切换
l 支持高速、长线、真空测试应用
l 单粒子翻转效应测试功能
l 单粒子功能中断效应测试功能
l 具备单粒子闩锁效应测试功能
l 具备故障注入能力
l 实时数据上报功能
性能指标
l 高速读写速度：≥40MHz
l 长线测试距离：≥3m
l 电压范围：0.8V～5.0V
l 电流范围：0～4A
l 闩锁速率：100ms
陕西夸克自控科技有限公司成立于2007年7月，是一家半导体可靠性测试解决方案提供商，公司依靠丰富的测试系统工程经验、半导体测试技术、高压及微弱信号检测技术、真空及辐射效应测试技术、高... 您有什么问题或要求吗？
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