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FPGA故障注入系统

概述:FPGA故障注入系统通过对重点关注的功能电路对应的位流进行修改并注入FPGA系统中,以此模拟辐射效应引起的单位或多位翻转,结合测试系统输出的功能性能判定结果,对FPGA系统的软件加固性能进行快速评估和验证,应用于航天系统地面验证、故障复现、加固算法评估等场合。
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  • 辐射效应测试系统 | 产品模块

    单次注入快   分布定位准

    高度集成
    多种注入模式
    支持遍历与随机故障注入,可调节随机概率,适应不同测试需求
    高度集成
    快速高效
    单次注入时间小于50ms,最大支持30MB位流,注入效率高
    高度集成
    广泛兼容
    覆盖S4、S6、K7、V7系列FPGA,支持SLICE、BRAM、IOB等资源类型
    高度集成
    故障分析
    提供故障分布图示、定位图示及统计功能,便于评估加固性能

    主要功能

    遍历位流注入
    随机故障注入
    电路位流提取
    随机概率调节
    资源位流提取
    支持位流回读
    故障分布图示
    故障定位图示

    规格参数

    型号:QFIS2713A-I
    单次注入时间
    <50ms
    最大比特规模
    30MB
    最大封装规模
    1927
    支持资源类型
    SLICE、BLOCK RAM、IOB
    支持器件型号
    S4、S6、K7、V7系列FPGA
    注入接口
    JTAG
    注入模式
    遍历、随机
    注入方式
    手动注入、自动注入
    故障统计
    支持
    故障分布
    支持
    故障定位
    支持
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应用领域

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